KIRJAUDU
Scanning Probe Microscopy - Electrical and Electromechanical Phenomena at the Nanoscale
258,60 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 980 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2007 ed.
Julkaisuvuosi: 2006, 18.12.2006 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Sivumäärä: 980 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2007 ed.
Julkaisuvuosi: 2006, 18.12.2006 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This volume will be devoted to the technical aspects of electrical and electromechanical SPM probes and SPM imaging on the limits of resolution, thus providing technical introduction into the field. This volume will also address the fundamental physical phenomena underpinning the imaging mechanism of SPMs.
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 16-19 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387286679
Aihealue:
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |