Software Defect and Operational Profile Modeling, Kai-Yuan Cai, Springer-Verlag New York Inc.

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Software Defect and Operational Profile Modeling

172,80 €

Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 268 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: Softcover reprint of
Julkaisuvuosi: 2012, 12.10.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: International Series in Software Engineering 4

also in: THE KLUWER INTERNATIONAL SERIES ON ASIAN STUDIES IN COMPUTER AND INFORMATION SCIENCE, Volume 1

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781461375593

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja