KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif
124,60 €
SPIE Press
Sivumäärä: 256 sivua
Asu: Mikrofilmi
Painos: New ed.
Julkaisuvuosi: 2011, 01.01.2011 (lisätietoa)
Sivumäärä: 256 sivua
Asu: Mikrofilmi
Painos: New ed.
Julkaisuvuosi: 2011, 01.01.2011 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819484659
Aihealue:
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |