SULJE VALIKKO

avaa valikko

Sonia Garcia-Blanco | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif
Sonia Garcia-Blanco
SPIE Press (2011)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Mikrofilmi
153,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MEMS/MOEMS and Nanodevices XI
Sonia Garcia-Blanco
SPIE Press (2012)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
123,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Optics - Devices, Materials, and Technologies XXI
Sonia Garcia-Blanco; Gualtiero Nunzi Conti
SPIE Press (2017)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
217,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Optics - Devices, Materials, and Technologies XXII
Sonia Garcia-Blanco; Pavel Cheben
SPIE Press (2018)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
291,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif
153,90 €
SPIE Press
Sivumäärä: 256 sivua
Asu: Mikrofilmi
Painos: New ed.
Julkaisuvuosi: 2011, 01.01.2011 (lisätietoa)
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780819484659
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste