Sonia Garcia-Blanco | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS AND NANODEVICES X - 24-25 JANUARY 2011, SAN FRANCISCO, CALIF

Sonia Garcia-Blanco
SPIE Press (2011)
Mikrofilmi

154,40 €

RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MEMS/MOEMS AND NANODEVICES XI

Sonia Garcia-Blanco
SPIE Press (2012)
Pehmeäkantinen kirja

123,60 €

INTEGRATED OPTICS - DEVICES, MATERIALS, AND TECHNOLOGIES XXI

Sonia Garcia-Blanco; Gualtiero Nunzi Conti
SPIE Press (2017)
Pehmeäkantinen kirja

217,40 €

INTEGRATED OPTICS - DEVICES, MATERIALS, AND TECHNOLOGIES XXII

Sonia Garcia-Blanco; Pavel Cheben
SPIE Press (2018)
Pehmeäkantinen kirja

292,40 €

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of Mems/Moems and Nanodevices X - 24-25 January 2011, San Francisco, Calif

Sonia Garcia-Blanco

154,40 €

SPIE Press
Sivumäärä: 256 sivua
Asu: Mikrofilmi
Painos: New ed.
Julkaisuvuosi: 2011, 01.01.2011 (lisätietoa)

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9780819484659

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste