SULJE VALIKKO

avaa valikko

X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures : Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
97,90 €
Springer
Sivumäärä: 371 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 13.12.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
New methods for the determination of the nature, proportion, and distribution of structural defects in microcrystallized lamellar systems are of utmost importance not only to experimentalists but also to theoreticians. Mathematical formalism - indispensable for such analyses - is well-illustrated by various examples, allowing this method to be easily adopted and even to be applied to other solids with lamellar or pseudo-lamellar structures.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
X-Ray Diffraction by Disordered Lamellar Structures : Theory and Applications to Microdivided Silicates and Carbons
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642748042
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste