SULJE VALIKKO

avaa valikko

Soft-Matter Characterization
430,20 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 1452 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2008
Julkaisuvuosi: 2008, 28.07.2008 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This 2 volume 4-part set includes extensive discussions of scattering techniques (light, neutron and X-ray) and related fluctuation and grating techniques that are at the forefront of this field. Most of the scattering techniques are Fourier space techniques. Recent advances have seen the development of powerful direct imaging methods such as atomic force microscopy and scanning probe microscopy. In addition, techniques that can be used to manipulate soft matter on the nanometer scale are also in rapid development. These include the scanning probe microscopy technique mentioned above as well as optical and magnetic tweezers.


This will appeal to soft matter scientists at the graduate level and above, condensed matter physicists, chemists, biologists, medical doctors and engineers.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Soft-Matter Characterizationzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781402044649
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste