Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry , Benninghoven, A. (ed.); Evans, C.A. Jr. (ed.); Powell, R.A. (ed.); Shimizu, R. (ed.); Storms, H.A. (ed.), Springer

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry

A. Benninghoven (ed.), C.A. Jr. Evans (ed.), R.A. Powell (ed.), R. Shimizu (ed.), H.A. Storms (ed.)

97,90 €

Springer
Sivumäärä: 300 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 13.12.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä

Myymäläsaatavuus