SULJE VALIKKO

avaa valikko

Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
97,90 €
Springer
Sivumäärä: 300 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 13.12.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Series in Chemical Physics 9
This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 5-6 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 13.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642618734
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste