SULJE VALIKKO

avaa valikko

Digital Noise Monitoring of Defect Origin
97,90 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 224 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2007 ed.
Julkaisuvuosi: 2007, 25.07.2007 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Lecture Notes in Electrical Engineering 2
Digital Noise Monitoring of Defect Origin is for both academics and professionals in the fields of engineering, biological sciences, physical science, and automation with particular emphasis on power engineering, oil-and-gas extraction, and aviation among others. The focus of the book is on determining defect origins. The author divides the process into the stages of monitoring the defect origin, identification of the defect and its stages, and control of the defect. The significance of this work is also connected to the possibility of using the noise as a data carrier for creating technologies that detect the initial stage of changes in objects.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Digital Noise Monitoring of Defect Originzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387717531
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste