Leonard M. Hanssen | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 8 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

OPTICAL DIAGNOSTICS

Leonard M. Hanssen; Patrick V. Farrell
SPIE Press (2005)
Pehmeäkantinen kirja

222,30 €

$Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces: Volume III - 13-16 August 2012, San Diego, California, United States$

REFLECTION, SCATTERING, AND DIFFRACTION FROM SURFACES: VOLUME III - 13-16 AUGUST 2012, SAN DIEGO, CALIFORNIA, UNITED STATES

Leonard M. Hanssen
SPIE Press (2012)
Pehmeäkantinen kirja

193,10 €

$Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces V$

REFLECTION, SCATTERING, AND DIFFRACTION FROM SURFACES V

Leonard M. Hanssen
SPIE Press (2016)
Pehmeäkantinen kirja

207,70 €

MARKET RESPONSE MODELS - ECONOMETRIC AND TIME SERIES ANALYSIS

Dominique M. Hanssens; Leonard J. Parsons; Randall L. Schultz
Springer (2001)
Kovakantinen kirja

241,40 €

MARKET RESPONSE MODELS - ECONOMETRIC AND TIME SERIES ANALYSIS

Dominique M. Hanssens; Leonard J. Parsons; Randall L. Schultz
Springer-Verlag New York Inc. (2003)
Pehmeäkantinen kirja

258,60 €

MARKET RESPONSE MODELS: ECONOMETRIC AND TIME SERIES ANALYSIS

Dominique M. Hanssens; Leonard J. Parsons; Randall L. Schultz
Springer (2011)
Pehmeäkantinen kirja

126,80 €

MARKET RESPONSE MODELS

Dominique M. Hanssens; Leonard J. Parsons; Randall L. Schultz
Kluwer Academic Publishers (1989)
Kovakantinen kirja

127,90 €

$Reflection, Scattering, and Diffraction from Surfaces$

REFLECTION, SCATTERING, AND DIFFRACTION FROM SURFACES

Zu-Han Gu; Leonard M. Hanssen
SPIE (2008)
Pehmeäkantinen kirja

204,50 €

Optical Diagnostics

Leonard M. Hanssen, Patrick V. Farrell

222,30 €

SPIE Press
Sivumäärä: 366 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2005, 30.08.2005 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus