SULJE VALIKKO

avaa valikko

Zeev Zalevsky (ed.) | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Super-Resolved Imaging : Geometrical and Diffraction Approaches
Tekijä: Zeev Zalevsky (ed.)
Kustantaja: Springer (2011)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   49,60
Coherent Light Microscopy : Imaging and Quantitative Phase Analysis
Tekijä: Pietro Ferraro (ed.); Adam Wax (ed.); Zeev Zalevsky (ed.)
Kustantaja: Springer (2011)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
Coherent Light Microscopy : Imaging and Quantitative Phase Analysis
Tekijä: Pietro Ferraro (ed.); Adam Wax (ed.); Zeev Zalevsky (ed.)
Kustantaja: Springer (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
    
Super-Resolved Imaging : Geometrical and Diffraction Approaches
49,60 €
Springer
Sivumäärä: 116 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2011
Julkaisuvuosi: 2011, 19.08.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

In this brief we review several approaches that provide super resolved imaging, overcoming the geometrical limitation of the detector as well as the diffraction effects set by the F number of the imaging lens. In order to obtain the super resolved enhancement, we use spatially non-uniform and/or random transmission structures to encode the image or the aperture planes. The desired resolution enhanced images are obtained by post-processing decoding of the captured data.



Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 17-20 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Super-Resolved Imaging : Geometrical and Diffraction Approacheszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781461408321
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste