SULJE VALIKKO

avaa valikko

Xiaoqing Wang | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testability
Laung-Terng Wang; Cheng-Wen Wu; Xiaoqing Wen
Elsevier Science & Technology (2006)
Kovakantinen kirja
79,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testability
Laung-Terng Wang; Cheng-Wen Wu; Xiaoqing Wen
Morgan Kaufmann Publishers (2006)
Pehmeäkantinen kirja
73,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Developing Intercultural Competence “at Home” - Domestic Students’ Experiences in Chinese Universities
Xiaoqing Wang; Kun Dai
Taylor & Francis Ltd (2023)
Kovakantinen kirja
170,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Developing Intercultural Competence “at Home” - Domestic Students’ Experiences in Chinese Universities
Xiaoqing Wang; Kun Dai
Taylor & Francis Ltd (2025)
Pehmeäkantinen kirja
51,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Die Tapferkeit der Zugvögel und andere Erzählungen
Xiaoqing Fan; Xiansheng Man; Zi Ye; Jun Pan; Zijian Chi; Xiangfu Wang; Sen Lin; Shuang Guo; Kang Yi; Chu Zhang
SONATA Book (2023)
Pehmeäkantinen kirja
31,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testability
79,90 €
Elsevier Science & Technology
Sivumäärä: 808 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2006, 14.08.2006 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

Contributions by: Khader S. Abdel-Hafez, Wen-Ben Jone, Rohit Kapur, Brion Keller, Kuen-Jong Lee, James C.-M. Li, Mike Peng Li, Xiaowei Li, T.M. Mak, Yinghua Min, Benoit Nadeau-Dostie, Soumendu Bhattacharya, Mehrdad Nourani, Janusz Rajski, Charles Stroud, Erik H. Volkerink, Duncan M. (Hank) Walker, Shianling Wu, Nur A. Touba, Abhijit Chatterjee, Xinghao Chen, Kwang-Ting (Tim) Cheng, William Eklow, Michael S. Hsiao, Jiun-Lang Huang, Shi-Yu Huang

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testabilityzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780123705976
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Meistä
Yhteystiedot ja aukioloajat
Usein kysytyt
Akateemisen Ystäväklubi
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste
Seuraa Akateemista
Instagram
Facebook
Threads
TikTok
YouTube
LinkedIn