Laung-Terng Wang | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES - DESIGN FOR TESTABILITY

Laung-Terng Wang; Cheng-Wen Wu; Xiaoqing Wen
Elsevier Science & Technology (2006)
Kovakantinen kirja

77,20 €

SYSTEM-ON-CHIP TEST ARCHITECTURES - NANOMETER DESIGN FOR TESTABILITY

Laung-Terng Wang; Charles E. Stroud; Nur A. Touba
Elsevier Science & Technology (2008)
Kovakantinen kirja

79,30 €

ELECTRONIC DESIGN AUTOMATION - SYNTHESIS, VERIFICATION, AND TEST

Laung-Terng Wang; Yao-Wen Chang; Kwang-Ting Cheng (Tim)
Elsevier Science & Technology (2009)
Kovakantinen kirja

102,10 €

VLSI TEST PRINCIPLES AND ARCHITECTURES - DESIGN FOR TESTABILITY

Laung-Terng Wang; Cheng-Wen Wu; Xiaoqing Wen
Morgan Kaufmann Publishers (2006)
Pehmeäkantinen kirja

70,70 €

VLSI Test Principles and Architectures - Design for Testability

Laung-Terng Wang, Cheng-Wen Wu, Xiaoqing Wen

77,20 €

Elsevier Science & Technology
Sivumäärä: 808 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2006, 14.08.2006 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book is a comprehensive guide to new DFT methods that will show the readers how to design a testable and quality product, drive down test cost, improve product quality and yield, and speed up time-to-market and time-to-volume.

Contributions by: Khader S. Abdel-Hafez, Wen-Ben Jone, Rohit Kapur, Brion Keller, Kuen-Jong Lee, James C.-M. Li, Mike Peng Li, Xiaowei Li, T.M. Mak, Yinghua Min, Benoit Nadeau-Dostie, Soumendu Bhattacharya, Mehrdad Nourani, Janusz Rajski, Charles Stroud, Erik H. Volkerink, Duncan M. (Hank) Walker, Shianling Wu, Nur A. Touba, Abhijit Chatterjee, Xinghao Chen, Kwang-Ting (Tim) Cheng, William Eklow, Michael S. Hsiao, Jiun-Lang Huang, Shi-Yu Huang

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa. | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024. Tuote ei välttämättä ehdi jouluksi.

Myymäläsaatavuus