SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy 97,90 € Springer Sivumäärä: 182 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2012 Julkaisuvuosi: 2012, 02.03.2012 (lisätietoa) Kieli: Englanti Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy presents the recent advances that have been made using mathematical methods to resolve problems in microscopy. With improvements in hardware-based aberration software significantly expanding the nanoscale imaging capabilities of scanning transmission electron microscopes (STEM), these mathematical models can replace some labor intensive procedures used to operate and maintain STEMs. This book, the first in its field since 1998, will also cover such relevant concepts as superresolution techniques, special denoising methods, application of mathematical/statistical learning theory, and compressed sensing. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781461421900 Tuotesarja: Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |