SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
| Reliability, Yield, and Stress Burn-In - A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development 129,90 € Springer Sivumäärä: 394 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 1998 Julkaisuvuosi: 1998, 31.01.1998 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780792381075 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |