SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Toni T. Mattila | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach
Tomi Laurila; Vesa Vuorinen; Mervi Paulasto-Kröckel; Markus Turunen; Toni T. Mattila; Jorma Kivilahti
Springer London Ltd (2012)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach
Tomi Laurila; Vesa Vuorinen; Mervi Paulasto-Kröckel; Markus Turunen; Toni T. Mattila; Jorma Kivilahti
Springer London Ltd (2014)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approach
129,90 €
Springer London Ltd
Sivumäärä: 218 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2012
Julkaisuvuosi: 2012, 13.01.2012 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Microsystems
Interfaces between dissimilar materials are met everywhere in microelectronics and microsystems. In order to ensure faultless operation of these highly sophisticated structures, it is mandatory to have fundamental understanding of materials and their interactions in the system. In this difficult task, the “traditional” method of trial and error is not feasible anymore; it takes too much time and repeated efforts. In Interfacial Compatibility in Microelectronics, an alternative approach is introduced.

In this revised method four fundamental disciplines are combined: i) thermodynamics of materials ii) reaction kinetics iii) theory of microstructures and iv) stress and strain analysis. The advantages of the method are illustrated in Interfacial Compatibility in Microelectronics which includes:

 solutions to several common reliability issues in microsystem technology,

 methods to understand and predict failure mechanisms at interfaces between dissimilar materials and

 an approach to DFR based on deep understanding in materials science, rather than on the use of mechanistic tools, such as FMEA.

Interfacial Compatibility in Microelectronics provides a clear and methodical resource for graduates and postgraduates alike.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Interfacial Compatibility in Microelectronics - Moving Away from the Trial and Error Approachzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781447124696
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste