SULJE VALIKKO

avaa valikko

Teresa McLaurin | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



The Core Test Wrapper Handbook - Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Francisco da Silva; Teresa McLaurin; Tom Waayers
Springer-Verlag New York Inc. (2006)
Kovakantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The Core Test Wrapper Handbook
Francisco Silva; Teresa McLaurin; Tom Waayers
SPRINGER VERLAG GMBH (2008)
Pehmeäkantinen kirja
65,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The Core Test Wrapper Handbook - Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
Francisco da Silva; Teresa McLaurin; Tom Waayers
Springer-Verlag New York Inc. (2014)
Pehmeäkantinen kirja
107,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The Core Test Wrapper Handbook - Rationale and Application of IEEE Std. 1500™
129,90 €
Springer-Verlag New York Inc.
Sivumäärä: 276 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2006
Julkaisuvuosi: 2006, 20.07.2006 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Frontiers in Electronic Testing 35
In the early to mid-1990's while working at what was then Motorola Se- conductor, business changes forced my multi-hundred dollar microprocessor to become a tens-of-dollars embedded core. I ran into first hand the problem of trying to deliver what used to be a whole chip with something on the order of over 400 interconnect signals to a design team that was going to stuff it into a package with less than 220 signal pins and surround it with other logic. I also ran into the problem of delivering microprocessor specification verifi- tion – a microprocessor is not just about the functions and instructions included with the instruction set, but also the MIPs rating at some given f- quency. I faced two dilemmas: one, I could not deliver functional vectors without significant development of off-core logic to deal with the reduced chip I/O map (and everybody's I/O map was going to be a little different); and two, the JTAG (1149. 1) boundary scan ring that was around my core when it was a chip was going to be woefully inadequate since it did not support - speed signal application and capture and independent use separate from my core. I considered the problem at length and came up with my own solution that was predominantly a separate non-JTAG scan test wrapper that supported at-speed application of launch-capture cycles using the system clock. But my problems weren't over at that point either.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
The Core Test Wrapper Handbook - Rationale and Application of IEEE Std. 1500™zoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387307510
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste