SULJE VALIKKO

avaa valikko

S. Jayanthy | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
S. Jayanthy; M.C. Bhuvaneswari
Springer Verlag, Singapore (2018)
Kovakantinen kirja
121,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
S. Jayanthy; M.C. Bhuvaneswari
Springer Verlag, Singapore (2018)
Pehmeäkantinen kirja
121,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuits
121,30 €
Springer Verlag, Singapore
Sivumäärä: 156 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1st ed. 2019
Julkaisuvuosi: 2018, 10.10.2018 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book describes a variety of test generation algorithms for testing crosstalk delay faults in VLSI circuits. It introduces readers to the various crosstalk effects and describes both deterministic and simulation-based methods for testing crosstalk delay faults. The book begins with a focus on currently available crosstalk delay models, test generation algorithms for delay faults and crosstalk delay faults, before moving on to deterministic algorithms and simulation-based algorithms used to test crosstalk delay faults. Given its depth of coverage, the book will be of interest to design engineers and researchers in the field of VLSI Testing.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Test Generation of Crosstalk Delay Faults in VLSI Circuitszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste