Peter Z. Takacs | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ADVANCES IN METROLOGY FOR X-RAY AND EUV OPTICS II

Lahsen Assoufid; Peter Z. Takacs; Masaru Ohtsuka
SPIE Press (2007)
Pehmeäkantinen kirja

222,80 €

ADVANCES IN METROLOGY FOR X-RAY AND EUV OPTICS

Lahsen Assoufid; Peter Z. Takacs; John S. Taylor
SPIE Press (2005)
Pehmeäkantinen kirja

222,80 €

Advances in Metrology for X-ray and EUV Optics II

Lahsen Assoufid, Peter Z. Takacs, Masaru Ohtsuka

222,80 €

SPIE Press
Sivumäärä: 168 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 30.12.2007 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus