KIRJAUDU
Lahsen Assoufid | Akateeminen Kirjakauppa
| Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics V 140,90 € SPIE Press Sivumäärä: 277 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2014, 30.10.2014 (lisätietoa) Kieli: Englanti Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature. Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
 Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9781628412338 Aihealue: |
|
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |