SULJE VALIKKO

avaa valikko

Lahsen Assoufid | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 9 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics V
Lahsen Assoufid; Haruhiko Ohashi; Anand Asundi
SPIE Press (2014)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
140,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Metrology for X-ray and EUV Optics II
Lahsen Assoufid; Peter Z. Takacs; Masaru Ohtsuka
SPIE Press (2007)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
220,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Metrology for X-ray and EUV Optics
Lahsen Assoufid; Peter Z. Takacs; John S. Taylor
SPIE Press (2005)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
220,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics III
Lahsen Assoufid
SPIE (2010)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
140,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics: Volume IV - 12 August 2012, San Diego, California, United States
Lahsen Assoufid
SPIE Press (2012)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
133,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VI
Lahsen Assoufid; Haruhiko Ohashi; Anand Krishna Asundi
SPIE Press (2017)
Saatavuus: Tulossa!
Pehmeäkantinen kirja
159,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics VII
Lahsen Assoufid; Haruhiko Ohashi; Anand Krishna Asundi
SPIE Press (2017)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja
170,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Molecular Building Blocks for Nanotechnology - From Diamondoids to Nanoscale Materials and Applications
G.Ali Mansoori; Thomas F. George; Lahsen Assoufid; Guoping Zhang
Springer-Verlag New York Inc. (2007)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
198,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Molecular Building Blocks for Nanotechnology - From Diamondoids to Nanoscale Materials and Applications
G.Ali Mansoori; Thomas F. George; Lahsen Assoufid; Guoping Zhang
Springer-Verlag New York Inc. (2014)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja
198,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics V
140,90 €
SPIE Press
Sivumäärä: 277 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 30.10.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics Vzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781628412338
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste