SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Martin C. Schubert | Akateeminen Kirjakauppa

LOCK-IN THERMOGRAPHY : BASICS AND USE FOR EVALUATING ELECTRONIC DEVICES AND MATERIALS

Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
Otwin Breitenstein; Wilhelm Warta; Martin C. Schubert
Springer (2019)
Kovakantinen kirja
138,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materials
138,50 €
Springer
Sivumäärä: 321 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 3
Julkaisuvuosi: 2019, 22.01.2019 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Series in Advanced Microelectronics 10

This book discusses lock-in thermography (LIT) as a dynamic variant of the widely known IR thermography. It focuses on applications to electronic devices and materials, but also includes chapters addressing non-destructive evaluation. Periodically modulating heat sources allows a much-improved signal-to-noise ratio (up to 1000x) and a far better lateral resolution compared to steady-state thermography. Reviewing various experimental approaches to LIT, particularly the commercial LIT systems available, this 3rd edition introduces new LIT applications, such as illuminated LIT applied to solar cells, non-thermal LIT lifetime mapping and LIT application to spin caloritronics problems. Numerous LIT investigation case studies are also included.




Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Lock-in Thermography : Basics and Use for Evaluating Electronic Devices and Materialszoom
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste