Haruhiko Ohashi | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

ADVANCES IN METROLOGY FOR X-RAY AND EUV OPTICS V

Lahsen Assoufid; Haruhiko Ohashi; Anand Asundi
SPIE Press (2014)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja

140,90 €

ADVANCES IN METROLOGY FOR X-RAY AND EUV OPTICS VI

Lahsen Assoufid; Haruhiko Ohashi; Anand Krishna Asundi
SPIE Press (2017)
Saatavuus: Tulossa!
Pehmeäkantinen kirja

159,30 €

ADVANCES IN METROLOGY FOR X-RAY AND EUV OPTICS VII

Lahsen Assoufid; Haruhiko Ohashi; Anand Krishna Asundi
SPIE Press (2017)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja

170,80 €

Advances in Metrology for X-Ray and EUV Optics V

Lahsen Assoufid, Haruhiko Ohashi, Anand Asundi

140,90 €

SPIE Press
Sivumäärä: 277 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 30.10.2014 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus