SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Kimberly L. Turner | Akateeminen Kirjakauppa

EXPERIMENTAL CHARACTERIZATION TECHNIQUES FOR MICRO/NANOSCALE DEVICES

Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices
Kimberly L. Turner; Peter G. Hartwell
Springer London (2007)
Kovakantinen kirja
228,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices
228,70 €
Springer London
Sivumäärä: 500 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2007, 01.03.2007 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Microsystems 170
"Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices" introduces commonly utilized and important techniques for the dynamic measurement and characterization of MEMS and NEMS devices. It outlines many of the techniques currently available for the test and characterization of MEMS and gives guidance in choosing an adequate technique for monitoring certain signals. After reading this book, MEMs designers and researchers will be able to determine the best test technique for his/her application, put together a viable experimental setup, complete the measurements, and do appropriate error and/or fatigue analysis on the collected data.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Experimental Characterization Techniques for Micro/Nanoscale Devices
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780387308623
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste