SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
| Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models 97,90 € Springer Sivumäärä: 167 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 1993 Julkaisuvuosi: 1992, 31.12.1992 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 208 Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780792393061 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |