SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

José Pineda de Gyvez | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 7 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
José Pineda de Gyvez
Springer (1992)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
José Pineda de Gyvez
Springer-Verlag New York Inc. (2014)
Pehmeäkantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev; José Pineda de Gyvez
Springer-Verlag New York Inc. (2007)
Kovakantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters : Design, Test and Calibration
Amir Zjajo; José Pineda de Gyvez
Springer (2010)
Kovakantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Defect-Oriented Testing for Nano-Metric CMOS VLSI Circuits
Manoj Sachdev; José Pineda de Gyvez
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Circuit Manufacturability - The Art of Process and Design Integration
José Pineda de Gyvez; Dhiraj Pradhan
John Wiley & Sons Inc (1998)
Kovakantinen kirja
229,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Low-Power High-Resolution Analog to Digital Converters - Design, Test and Calibration
Amir Zjajo; José Pineda de Gyvez
Springer (2016)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
97,90 €
Springer
Sivumäärä: 167 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1993
Julkaisuvuosi: 1992, 31.12.1992 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Springer International Series in Engineering and Computer Science 208
The history of this book begins way back in 1982. At that time a research proposal was filed with the Dutch Foundation for Fundamental Research on Matter concerning research to model defects in the layer structure of integrated circuits. It was projected that the results may be useful for yield estimates, fault statistics and for the design of fault tolerant structures. The reviewers were not in favor of this proposal and it disappeared in the drawers. Shortly afterwards some microelectronics industries realized that their survival may depend on a better integration between technology-and design-laboratories. For years the "silicon foundry" concept had suggested a fairly rigorous separation between the two areas. The expectation was that many small design companies would share the investment into the extremely costful Silicon fabrication plants while designing large lots of application-specific integrated circuits (ASIC's). Those fabrication plants would be concentrated with only a few market leaders.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Integrated Circuit Defect-Sensitivity: Theory and Computational Models
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780792393061
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste