SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

John V. Gilfrich | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Advances in X-Ray Analysis - Volume 39
John V. Gilfrich; I. Cev Noyan; Ron Jenkins; Ting C. Huang; Robert L. Snyder; Deane K. Smith; Mary Ann Zaitz; P Predecki
Springer Science+Business Media (1998)
Kovakantinen kirja
258,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 37
John V. Gilfrich; C.C. Goldsmith; Ting C. Huang; Ron Jenkins; I. Cev Noyan
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 36
John V. Gilfrich; Ting C. Huang; C.R. Hubbard; M.R. James; Ron Jenkins; G.R. Lachance; Deane K. Smith
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 38
D.K. Bowen; John V. Gilfrich; C.C. Goldsmith; Ting C. Huang; Ron Jenkins; I. Cev Noyan; Paul K. Predecki; Deane K. Smith
Springer Science+Business Media (1995)
Kovakantinen kirja
258,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 33
Charles S. Barrett; John V. Gilfrich; Ting C. Huang; Ron Jenkins
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 35B
C.S. Barrett; John V. Gilfrich; Ting C. Huang; Ron Jenkins; G.J. McCarthy; Paul K. Predecki; R. Ryon; Deane K. Smith
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 33
Charles S. Barrett; John V. Gilfrich; Ting C. Huang; Ron Jenkins
Springer Science+Business Media (1990)
Kovakantinen kirja
78,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis
Charles S. Barrett; John V. Gilfrich; Ting C. Huang; Ron Jenkins; G. J. McCarthy; Paul K. Predecki; R. Ryon; Deane Smith
Springer (1992)
Kovakantinen kirja
122,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 32
Charles S. Barrett; J.V. Gilfrich; Ron Jenkins; John C. Russ; J.W. Richardson Jr.; Paul K. Predecki
Springer Science+Business Media (1989)
Kovakantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 32
Charles S. Barrett; J.V. Gilfrich; Ron Jenkins; John C. Russ; J.W. Richardson Jr.; Paul K. Predecki
Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Pehmeäkantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Springer Science+Business Media
Sivumäärä: 908 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 1998
Julkaisuvuosi: 1998, 31.01.1998 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
The 39th Denver Conference on Applications of X-ray Analysis was held July 31-August 4, 1995, at the Sheraton Hotel, Colorado Springs, Colorado. The year 1995 was a special year for the X-ray analysis community, since it represented the 100th anniversary ofthe discovery ofX-rays by Wilhelm Roentgen. In commemoration of this event, the Plenary Session of the conference was entitled "THE ROENTGEN COMMEMORATIVE SESSION:1895-1995, "100 YEARS OF PROGRESS IN X-RA Y SCIENCE AND APPLICATIONS". It is interesting to note that while we celebrate 100 years ofthe use ofX-ray techniques in general, and about 80 years ofX-ray diffraction and spectroscopy in particular, the Denver X-ray Conference has been in place for about half ofthat time period! Like the X-ray methods it represents, the Denver Conference on Applications ofX-ray Analysis has grown and matured, has survived the rigors oftime, and today, provides the worlds' best annual forum for the exchange of experiences and developments in the various fields ofX-ray analysis. Imagine, when the Denver Conference started in 1951, there were no personal computer- in fact, there were no computers, period! There was no SEM, no microprobe, there were no Si(Li) detectors, no transistors, no synchrotrons, Hugo Rietveld was a child, and many members who regularly attend Denver Meetings today, weren't even born yet! As I write this foreword, a copy of volurne 1 of Advances in X-ray Analysis lays in front of me on my desk.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in X-Ray Analysis - Volume 39
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780306458033
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste