SULJE VALIKKO

avaa valikko

I. Cev Noyan | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Advances in x-Ray Analysis - Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver,
John V. Gilfrich; C.C. Goldsmith; Ting C. Huang; Ron Jenkins; I. Cev Noyan
Kluwer Academic Publishers Group (1994)
Kovakantinen kirja
123,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 38
D.K. Bowen; John V. Gilfrich; C.C. Goldsmith; Ting C. Huang; Ron Jenkins; I. Cev Noyan; Paul K. Predecki; Deane K. Smith
Springer Science+Business Media (1995)
Kovakantinen kirja
258,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 39
John V. Gilfrich; I. Cev Noyan; Ron Jenkins; Ting C. Huang; Robert L. Snyder; Deane K. Smith; Mary Ann Zaitz; P Predecki
Springer Science+Business Media (1998)
Kovakantinen kirja
258,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in X-Ray Analysis - Volume 37
John V. Gilfrich; C.C. Goldsmith; Ting C. Huang; Ron Jenkins; I. Cev Noyan
Springer-Verlag New York Inc. (2012)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advances in x-Ray Analysis - Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver,
123,50 €
Kluwer Academic Publishers Group
Sivumäärä: 784 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1994, 30.09.1994 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Advances in X-Ray Analysis 37
Selected papers from the 1993 Denver Conference on Applications of X-Ray Analysis. International experts present the latest research in the field, with special coverage of the impact of personal computers and sophisticated software on the development of X-ray instrumentation and techniques. Annotati

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Advances in x-Ray Analysis - Proccedings of the Forty-Second Annual Conference on Applications of X-Ray Analysis Held in Denver,zoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780306449017
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste