Tekijä: Shirley M Ross; Irina a Chindea; John S Crown; Samantha E Dinicola; Ginger Groeber; Lawrence M Hanser; Jennifer J Li Kustantaja: RAND Corporation (2024) Saatavuus: Noin 6-9 arkipäivää
Tekijä: David R. Essig-Beatty; To-Shan Li; Karen M. Steele; Zachary J. Comeaux; John M. Garlitz; James W. Kribs; William W Lemley Kustantaja: Lippincott Williams and Wilkins (2010) Saatavuus: Noin 15-18 arkipäivää
Tekijä: Chaitra M Hardison; Louis W Miller; Jennifer J Li; Amber N Schroeder; Susan Burkhauser; Sean Robson; Deborah Lai Kustantaja: RAND Corporation (2012) Saatavuus: Ei tiedossa
Tekijä: R J Arsenault; Edgar A Starke Jr; Azar Parvizi-majidi; C S Pande; Yiu-wing Mai; James C M Li; Jang-kyo Kim; C Graham Jr Kustantaja: World Scientific Publishing Co Pte Ltd (1996) Saatavuus: Ei tiedossa
Tekijä: James J. (Jong Hyuk) Park (ed.); Victor C.M. Leung (ed.); Cho-Li Wang (ed.); Taeshik Shon (ed.) Kustantaja: Springer (2014) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Tekijä: Huafeng Yu (ed.); Xin Li (ed.); Richard M. Murray (ed.); S. Ramesh (ed.); Claire J. Tomlin (ed.) Kustantaja: Springer (2018) Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
Tekijä: Paul M. Pedersen; Brody J. Ruihley; Bo Li Kustantaja: Taylor & Francis Ltd (2020) Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa
Tekijä: Ulrike Mathesius; Jian Jin; Yansheng Li; Michelle Watt; J. F. Angus; Ajit S. Nehe; M. John Foulkes; Jacques Le Gouis; Ha Kustantaja: Burleigh Dodds Science Publishing Limited (2021) Saatavuus: Noin 16-19 arkipäivää
Tekijä: Paul M. Pedersen; Brody J. Ruihley; Bo Li Kustantaja: Taylor & Francis Ltd (2022) Saatavuus: | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 1-3 viikossa
Tekijä: Martinez-Lopez Francisco J. Martinez-Lopez; Li Yangchun Li; Young Susan M. Young Kustantaja: Springer Nature B.V. (2022) Saatavuus: Ei tiedossa
Springer Sivumäärä: 272 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2003 Julkaisuvuosi: 2003, 31.07.2003 (lisätietoa) Kieli: Englanti
Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal methods have thus far shown great potential in engineering applications in quantitative microscopic analysis of materials using commercial microscopes. This book attempts to introduce the fundamentals and the basis methods of fractal description of microstructures in combination with digital imaging and computer technologies. Basic concepts are given in the form of mathematical expressions. Detailed algorithms in practical applications are also provided. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book. Image-Based Fractal Description of Microstructures provides a comprehensive approach to materials characterization by fractal from theory to application.
