SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
ADVANCES IN THE CRYSTALLOGRAPHIC AND MICROSTRUCTURAL ANALYSIS OF CHARGE DENSITY WAVE MODULATED CRYSTALS | ||
| Advances in the Crystallographic and Microstructural Analysis of Charge Density Wave Modulated Crystals 49,60 € Springer Sivumäärä: 261 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Painos: Softcover reprint of Julkaisuvuosi: 2012, 14.10.2012 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Physics and Chemistry of Materials with Low-Dimensional Structures 22 Modulated crystals have been intensively investigated over the past several years and it is now evident that an understanding of their crystallography and microstructure is fundamental to the elucidation of the physical properties and phase transitions in these materials. This book brings together for the first time the crystallographic descriptions and experimental methods for the structural and microstructural analysis of modulated crystals as described by well-known researchers in the various areas. The emphasis is on charge density wave modulations, and the detailed analysis of the prototypical NbTe4/TaTe4 system gives practical applications of the methods. Scanning Tunnelling Microscopy is a new technique providing significant new insights into atomic scale details of the modulations' structures and a chapter on this method is included. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9789401059459 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |