SULJE VALIKKO

avaa valikko

Ian McNulty (ed.) | Akateeminen Kirjakauppa

THE 10TH INTERNATIONAL CONFERENCE ON X-RAY MICROSCOPY

The 10th International Conference on X-Ray Microscopy
Ian McNulty (ed.); Catherine Eyberger (ed.); Barry Lai (ed.)
American Institute of Physics (2011)
Pehmeäkantinen kirja
147,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The 10th International Conference on X-Ray Microscopy
147,00 €
American Institute of Physics
Sivumäärä: 486 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2011
Julkaisuvuosi: 2011, 31.10.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Accelerators, Beams, and Instrumentations
This conference proceedings would be of interest to researchers and students in universities, national laboratories, synchrotron and x-ray laser facilities, and industries in the technical fields. Fields of interest include high-resolution x-ray microscopy and imaging, magnetism and magnetic materials, biological and biomedical sciences, and materials and condensed matter sciences.
The 10th International Conference on X-ray Microscopy (XRM 2010) was held on August 15-20, 2010 in Chicago, Illinois, USA. The latest advances in x-ray microscopy instrumentation and methods and their applications to biology, environmental, magnetism, and materials science were presented at XRM 2010.

Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
The 10th International Conference on X-Ray Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780735409255
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste