Herbert R. Shea | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?

RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MOEMS/MEMS, NANODEVICES, AND NANOMATERIALS XIII

Herbert R. Shea; Rajeshuni Ramesham
SPIE Press (2014)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja

164,30 €

MEMS RELIABILITY

Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea
Springer (2010)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja

138,50 €

MEMS RELIABILITY

Allyson L. Hartzell; Mark G. Da Silva; Herbert R. Shea
SPRINGER VERLAG GMBH (2010)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja

63,40 €

MEMS RELIABILITY

Allyson L. Hartzell; Mark G. da Silva; Herbert R. Shea
Springer (2012)
Saatavuus: Tilaustuote
Pehmeäkantinen kirja

112,40 €

RELIABILITY, PACKAGING, TESTING, AND CHARACTERIZATION OF MOEMS/MEMS AND NANODEVICES XII - 4-5 FEBRUARY 2013, SAN FRANCISCO, CALI

Rajeshuni Ramesham; Herbert R. Shea
SPIE Press (2013)
Saatavuus: Hankintapalvelu
Pehmeäkantinen kirja

153,00 €

Reliability, Packaging, Testing, and Characterization of MOEMS/MEMS, Nanodevices, and Nanomaterials XIII

Herbert R. Shea, Rajeshuni Ramesham

164,30 €

SPIE Press
Sivumäärä: 277 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2014, 30.04.2014 (lisätietoa)

Proceedings of SPIE present the original research papers presented at SPIE conferences and other high-quality conferences in the broad-ranging fields of optics and photonics. These books provide prompt access to the latest innovations in research and technology in their respective fields. Proceedings of SPIE are among the most cited references in patent literature.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus