SULJE VALIKKO

avaa valikko

Henning Friis Poulsen | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 5 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy - Mapping Polycrystals and their Dynamics
Henning Friis Poulsen
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2004)
Kovakantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy - Mapping Polycrystals and their Dynamics
Henning Friis Poulsen
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2013)
Pehmeäkantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
1st International Conference on 3D Materials Science, 2012 : Conference Proceedings
Marc De Graef (ed.); Henning Friis Poulsen (ed.); Alexis Lewis (ed.); Jeff Simmons (ed.); George Spanos (ed.)
Springer (2016)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
The 2nd International Congress on 3D Materials Science : Congress Proceedings
Dominique Bernard (ed.); Jean-Yves Buffière (ed.); Tresa Pollock (ed.); Henning Friis Poulsen (ed.); Anthony Rollett (ed.)
Springer (2016)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
1st International Conference on 3D Materials Science, 2012 - Conference Proceedings
Marc De Graef; Henning Friis Poulsen; Alexis Lewis; Jeff Simmons; George Spanos
Springer International Publishing AG (2018)
Pehmeäkantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy - Mapping Polycrystals and their Dynamics
172,80 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 156 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2004
Julkaisuvuosi: 2004, 31.08.2004 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Springer Tracts in Modern Physics 205
Three-dimensional x-ray diffraction (3DXRD) microscopy is a novel experimental method for structural characterisation of polycrystalline materials. The position, morphology, phase, strain and crystallographic orientation of hundreds of grains or sub-grain embedded within mm-cm thick specimens can be determined simultaneously. Furthermore, the dynamics of the individual structural elements can be monitored during typical processes such as deformation or annealing.





The book gives a comprehensive account of the methodology followed by a summary of selected applications. The method is presented from a mathematical/crystallographic point-of-view but with sufficient hands-on details to enable the reader to plan his or her own experiments. The scope of applications includes work in materials science and engineering, geophysics, geology, chemistry and pharmaceutical science.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Three-Dimensional X-Ray Diffraction Microscopy - Mapping Polycrystals and their Dynamicszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783540223306
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste