SULJE VALIKKO

avaa valikko

Heinrich Schlangenotto | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 4 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Semiconductor Power Devices - Physics, Characteristics, Reliability
Josef Lutz; Heinrich Schlangenotto; Uwe Scheuermann; Rik De Doncker
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2011)
Kovakantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Semiconductor Power Devices - Physics, Characteristics, Reliability
Josef Lutz; Heinrich Schlangenotto; Uwe Scheuermann; Rik De Doncker
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG (2014)
Pehmeäkantinen kirja
126,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Semiconductor Power Devices - Physics, Characteristics, Reliability
Josef Lutz; Heinrich Schlangenotto; Uwe Scheuermann; Rik De Doncker
Springer International Publishing AG (2018)
Kovakantinen kirja
241,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Semiconductor Power Devices : Physics, Characteristics, Reliability
Josef Lutz; Heinrich Schlangenotto; Uwe Scheuermann; Rik De Doncker
Springer (2019)
Pehmeäkantinen kirja
172,80
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Semiconductor Power Devices - Physics, Characteristics, Reliability
172,80 €
Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG
Sivumäärä: 536 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2011
Julkaisuvuosi: 2011, 27.01.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Semiconductor power devices are the heart of power electronics. They determine the performance of power converters and allow topologies with high efficiency. Semiconductor properties, pn-junctions and the physical phenomena for understanding power devices are discussed in depth. Working principles of state-of-the-art power diodes, thyristors, MOSFETs and IGBTs are explained in detail, as well as key aspects of semiconductor device production technology. In practice, not only the semiconductor, but also the thermal and mechanical properties of packaging and interconnection technologies are essential to predict device behavior in circuits. Wear and aging mechanisms are identified and reliability analyses principles are developed. Unique information on destructive mechanisms, including typical failure pictures, allows assessment of the ruggedness of power devices. Also parasitic effects, such as device induced electromagnetic interference problems, are addressed. The book concludes with modern power electronic system integration techniques and trends.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Semiconductor Power Devices - Physics, Characteristics, Reliabilityzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9783642111242
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste