SULJE VALIKKO

avaa valikko

G. D. W. Smith FRS | Akateeminen Kirjakauppa

ATOM PROBE FIELD ION MICROSCOPY

Atom Probe Field Ion Microscopy
M. K. Miller; A. Cerezo; M. G. Hetherington; G. D. W. Smith FRS
Oxford University Press (1996)
Saatavuus: Tilaustuote
Kovakantinen kirja
198,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atom Probe Field Ion Microscopy
198,40 €
Oxford University Press
Sivumäärä: 520 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1996, 19.09.1996 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 26-29 arkipäivässä
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Atom Probe Field Ion Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste