SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

G. D. W. Smith FRS | Akateeminen Kirjakauppa

ATOM PROBE FIELD ION MICROSCOPY

Atom Probe Field Ion Microscopy
M. K. Miller; A. Cerezo; M. G. Hetherington; G. D. W. Smith FRS
Oxford University Press (1996)
Kovakantinen kirja
200,20
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Atom Probe Field Ion Microscopy
200,20 €
Oxford University Press
Sivumäärä: 520 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1996, 19.09.1996 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Monographs on the Physics and Chemistry of Materials 52
This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Atom Probe Field Ion Microscopyzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780198513872
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste