SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ
ATOM PROBE FIELD ION MICROSCOPY | ||
| Atom Probe Field Ion Microscopy 200,20 € Oxford University Press Sivumäärä: 520 sivua Asu: Kovakantinen kirja Julkaisuvuosi: 1996, 19.09.1996 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Monographs on the Physics and Chemistry of Materials 52 This book provides a definitive account of the theory, practice and applications of atom probe field ion microscopy (APFIM). The APFIM technique provides a unique method for observing and chemically identifying single atoms on solid surfaces. Recent advances in the method,which are largely due to the present authors, now permit the atomic-scale chemistry of a solid specimen to be recognised in three dimensions. As a result of these developments, new and exciting applications are rapidly emerging in the field of material science, surface science, and catalysis. The book is a state-of-the art account of this important field, and is intended for a graduate-level readership. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 3-4 viikossa
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9780198513872 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |