SULJE VALIKKO

avaa valikko

Ehrenfried Zschech | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 10 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Stress-Induced Phenomena in Metallization : Eighth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization
Ehrenfried Zschech (ed.); Karen Maex (ed.); Paul S. Ho (ed.); Hisao Kawasaki (ed.); Tomoji Nakamura (ed.)
American Institute of Physics (2006)
Kovakantinen kirja
165,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Materials for Information Technology - Devices, Interconnects and Packaging
Ehrenfried Zschech; Caroline Whelan; Thomas Mikolajick
Springer London Ltd (2005)
Kovakantinen kirja
179,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Materials for Information Technology - Devices, Interconnects and Packaging
Ehrenfried Zschech; Caroline Whelan; Thomas Mikolajick
Springer London Ltd (2010)
Pehmeäkantinen kirja
179,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Stress-Induced Phenomena in Metallization : 11th International Workshop
Ehrenfried Zschech (ed.); Shinichi Ogawa (ed.); Paul S. Ho (ed.)
American Institute of Physics (2010)
Kovakantinen kirja
131,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Stress Management for 3D ICS Using Through Silicon Vias: : International Workshop on Stress Management for 3D ICs Using Through
Ehrenfried Zschech (ed.); Riko Radojcic (ed.); Valeriy Sukharev (ed.); Larry Smith (ed.)
American Institute of Physics (2011)
Pehmeäkantinen kirja
116,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Characterization of Nanomaterials
Ehrenfried Zschech (toim.); Robert Sinclair (toim.); Rodrigo Martins (toim.)
Mdpi AG (2021)
Kovakantinen kirja
56,30
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Bondkontakte
Ehrenfried Zschech
De Gruyter (1991)
Kovakantinen kirja
162,70
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Stress-Induced Phenomena in Metallization : Tenth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization
Paul S. Ho (ed.); Ehrenfried Zschech (ed.); Shinichi Ogawa (ed.)
American Institute of Physics (2009)
Kovakantinen kirja
104,50
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Stress-Induced Phenomena in Metallization : Ninth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization
Shinichi Ogawa (ed.); Paul S. Ho (ed.); Ehrenfried Zschech (ed.)
American Institute of Physics (2007)
Kovakantinen kirja
146,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Advanced Interconnects for ULSI Technology
Mikhail Baklanov; Paul S. Ho; Ehrenfried Zschech
John Wiley & Sons Inc (2012)
Kovakantinen kirja
180,00
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Stress-Induced Phenomena in Metallization : Eighth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization
165,70 €
American Institute of Physics
Sivumäärä: 372 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2006
Julkaisuvuosi: 2006, 16.02.2006 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: AIP Conference Proceedings Stress-Induced Phenomena Metallizat.

These proceedings present current research on issues related to stress-induced phenomena in on-chip metal interconnects and solder joints. The volume will appeal to scientists, engineers, graduate students interested in research and development of microelectronic devices as well as technology integration, and semiconductor industry professionals and equipment suppliers.



Loppuunmyyty
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Stress-Induced Phenomena in Metallization : Eighth International Workshop on Stress-Induced Phenomena in Metallization
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9780735403109
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste