SULJE VALIKKO

avaa valikko

Egor Sogomonyan | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



New Methods of Concurrent Checking
Michael Gössel; Vitaly Ocheretny; Egor Sogomonyan; Daniel Marienfeld
Springer (2008)
Kovakantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
New Methods of Concurrent Checking
Michael Gössel; Vitaly Ocheretny; Egor Sogomonyan; Daniel Marienfeld
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
97,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
New Methods of Concurrent Checking
Michael G. Ssel; Vitaly Ocheretny; Egor Sogomonyan
SPRINGER VERLAG GMBH (2008)
Pehmeäkantinen kirja
65,40
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
New Methods of Concurrent Checking
97,90 €
Springer
Sivumäärä: 182 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Painos: 2008
Julkaisuvuosi: 2008, 09.05.2008 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Frontiers in Electronic Testing 42
Computers are everywhere around us. We, for example, as air passengers, car drivers, laptop users with Internet connection, cell phone owners, hospital patients, inhabitants in the vicinity of a nuclear power station, students in a digital library or customers in a supermarket are dependent on their correct operation. Computers are incredibly fast, inexpensive and equipped with almost unimag- able large storage capacity. Up to 100 million transistors per chip are quite common today - a single transistor for each citizen of a large capital city in the world can be 2 easily accommodated on an ordinary chip. The size of such a chip is less than 1 cm . This is a fantastic achievement for an unbelievably low price. However, the very small and rapidly decreasing dimensions of the transistors and their connections over the years are also the reason for growing problems with reliability that will dramatically increase for the nano-technologies in the near future. Can we always trust computers? Are computers always reliable? Are chips suf- ciently tested with respect to all possible permanent faults if we buy them at a low price or have errors due to undetected permanent faults to be discovered by c- current checking? Besides permanent faults, many temporary or transient faults are also to be expected.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
New Methods of Concurrent Checkingzoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781402084195
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste