SULJE VALIKKO

avaa valikko

Dale E. Newbury | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 15 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tekijä: Goldstein Joseph Goldstein; Newbury Dale E. Newbury; Echlin Patrick Echlin
Kustantaja: Springer Nature B.V. (2013)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   106,20
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tekijä: Goldstein Joseph Goldstein; Newbury Dale E. Newbury; Joy David C. Joy
Kustantaja: Springer Nature B.V. (2011)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   116,20
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tekijä: Goldstein Joseph I. Goldstein; Newbury Dale E. Newbury; Michael Joseph R. Michael
Kustantaja: Springer Nature B.V. (2017)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   116,30
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Third Edition
Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David C. Joy; Charles E. Lyman; Patrick Echlin; Eric Lifshin; Linda Sawyer; J Michael
Kustantaja: Springer Science+Business Media (2003)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   107,50
X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David B. Williams
Kustantaja: Springer Science+Business Media (1995)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   172,80
X-Ray Spectrometry in Electron Beam Instruments
Tekijä: Joseph Goldstein (ed.); Dale E. Newbury (ed.); David B. Williams (ed.)
Kustantaja: Springer (2012)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   172,80
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Alton D. Romig Jr.; Charles E. Lyman; Charles Fiori; Lif
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2011)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Third Edition
Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; David C. Joy; Charles E. Lyman; Patrick Echlin; Eric Lifshin; Linda Sawyer; J Michael
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   107,50
Scanning Electron Microscopy, X-Ray Microanalysis, and Analytical Electron Microscopy - A Laboratory Workbook
Tekijä: Charles E. Lyman; Dale E. Newbury; Joseph Goldstein; David B. Williams; Alton D. Romig Jr.; John Armstrong; Patric Echlin
Kustantaja: Springer Science+Business Media (1990)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tekijä: Patrick Echlin; C.E. Fiori; Joseph Goldstein; David C. Joy; Dale E. Newbury
Kustantaja: Springer Science+Business Media (1986)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   147,10
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tekijä: Patrick Echlin; C.E. Fiori; Joseph Goldstein; David C. Joy; Dale E. Newbury
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - A Text for Biologists, Materials Scientists, and Geologists
Tekijä: Joseph Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; David C. Joy; Charles Fiori; Eric Lifshin
Kustantaja: Springer-Verlag New York Inc. (2013)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
Scanning Electron Microscopy and X-ray Microanalysis
Tekijä: Joseph I. Goldstein; Dale E. Newbury; Patrick Echlin; D.C. Joy
Kustantaja: Kluwer Academic Publishers Group (1992)
Saatavuus: Ei tiedossa
EUR   125,20
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tekijä: Joseph I. Goldstein; Dale E. Newbury; Joseph R. Michael; Nicholas W.M. Ritchie; John Henry J. Scott; David C. Joy
Kustantaja: Springer (2017)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   107,50
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Tekijä: Joseph I. Goldstein; Dale E. Newbury; Joseph R. Michael; Nicholas W.M. Ritchie; John Henry J. Scott; David C. Joy
Kustantaja: Springer (2018)
Saatavuus: Noin 17-20 arkipäivää
EUR   97,90
    
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
106,20 €
Springer Nature B.V.
Sivumäärä: 692 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2013, 02.06.2013 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotteella ei tuotekuvausta.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781461332749
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste