SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Scanning Tunneling Microscopy and Its Application 129,90 € Springer-Verlag Berlin and Heidelberg GmbH & Co. KG Sivumäärä: 370 sivua Asu: Kovakantinen kirja Painos: 2nd rev. ed. 2000 Julkaisuvuosi: 2000, 10.08.2000 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Springer Series in Surface Sciences 32 Scanning Tunneling Microscopy and its Application presents a unified view of the rapidly growing field of STM,and its many derivatives. A thorough discussion of the various principles provides the background to tunneling phenomena and leads to the many novel scanning-probe techniques, such as AFM, MFM, BEEM, PSTM, etc. After having examined the available instrumentation and the methods for tip and surface preparations, the monograph provides detailed accounts of STM application to metal and semiconductor surfaces, adsorbates and surface chemistry, biology, and nanofabrication. It examines limitations of the present-day investigations and provides hints about possible further trends. This second edition includes important new developments in the field. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783540657156 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |