SULJE VALIKKO

avaa valikko

Cedric J. Powell (ed.) | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 2 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
Alvin W. Czanderna (ed.); Theodore E. Madey (ed.); Cedric J. Powell (ed.)
Springer (2010)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Specimen Handling, Preparation, and Treatments in Surface Characterization
Alvin W. Czanderna (ed.); Cedric J. Powell (ed.); Theodore E. Madey (ed.)
Springer (2013)
Pehmeäkantinen kirja
129,90
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysis
129,90 €
Springer
Sivumäärä: 430 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 2002
Julkaisuvuosi: 2010, 06.12.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Methods of Surface Characterization 5
Many books are available that detail the basic principles of the different methods of surface characterization. On the other hand, the scientific literature provides a resource of how individual pieces of research are conducted by particular labo- tories. Between these two extremes the literature is thin but it is here that the present volume comfortably sits. Both the newcomer and the more mature scientist will find in these chapters a wealth of detail as well as advice and general guidance of the principal phenomena relevant to the study of real samples. In the analysis of samples, practical analysts have fairly simple models of how everything works. Superimposed on this ideal world is an understanding of how the parameters of the measurement method, the instrumentation, and the char- teristics of the sample distort this ideal world into something less precise, less controlled, and less understood. The guidance given in these chapters allows the scientist to understand how to obtain the most precise and understood measu- ments that are currently possible and, where there are inevitable problems, to have clear guidance as the extent of the problem and its likely behavior.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Beam Effects, Surface Topography, and Depth Profiling in Surface Analysiszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781441932990
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste