SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Battista Biggio | Akateeminen Kirjakauppa

Haullasi löytyi yhteensä 3 tuotetta
Haluatko tarkentaa hakukriteerejä?



Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, Nov
Antonio Robles-Kelly; Marco Loog; Battista Biggio; Francisco Escolano; Richard Wilson
Springer International Publishing AG (2016)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2018, Beijing, China, Aug
Xiao Bai; Edwin R. Hancock; Tin Kam Ho; Richard C. Wilson; Battista Biggio; Antonio Robles-Kelly
Springer International Publishing AG (2018)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshops, S+SSPR 2020, Padua, Italy, Janu
Andrea Torsello; Luca Rossi; Marcello Pelillo; Battista Biggio; Antonio Robles-Kelly
Springer Nature Switzerland AG (2021)
Pehmeäkantinen kirja
49,60
Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, Nov
49,60 €
Springer International Publishing AG
Sivumäärä: 588 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Painos: 1st ed. 2016
Julkaisuvuosi: 2016, 05.11.2016 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: Image Processing, Computer Vision, Pattern Recognition, and Graphics
This book constitutes the proceedings of the Joint IAPR International Workshop on Structural Syntactic, and Statistical Pattern Recognition, S+SSPR 2016, consisting of the International Workshop on Structural and Syntactic Pattern Recognition SSPR, and the International Workshop on Statistical Techniques in Pattern Recognition, SPR. The 51 full papers presented were carefully reviewed and selected from 68 submissions. They are organized in the following topical sections: dimensionality reduction, manifold learning and embedding methods; dissimilarity representations; graph-theoretic methods; model selection, classification and clustering; semi and fully supervised learning methods; shape analysis; spatio-temporal pattern recognition; structural matching; text and document analysis. 

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Structural, Syntactic, and Statistical Pattern Recognition - Joint IAPR International Workshop, S+SSPR 2016, Mérida, Mexico, Novzoom
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste