SULJE VALIKKO
KIRJAUDU
| Secondary Ion Mass Spectrometry SIMS II : Proceedings of the Second International Conference on Secondary Ion Mass Spectrometry 97,90 € Springer Sivumäärä: 300 sivua Asu: Pehmeäkantinen kirja Julkaisuvuosi: 2011, 13.12.2011 (lisätietoa) Kieli: Englanti Tuotesarja: Springer Series in Chemical Physics 9 This volume contains the proceedings of the Tenth International Converence on Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS X). It covers a diverse field of research ranging from environmental problems to depth profiling and semiconductors. In doing so, it provides an excellent overview of current research and technology by acknowledged experts in their specialised fields. Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 4-5 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Näytä kaikki tuotetiedotISBN: 9783642618734 Aihealue: |
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisäänRekisteröityminen |
Oma tili
Omat tiedotOmat tilaukset Omat laskut |
Lisätietoja
AsiakaspalveluTietoa verkkokaupasta Toimitusehdot Tietosuojaseloste |