A simplified key-curve approach for J-R-curve testing of CT-specimens, Wallin Kim, Valtion teknillinen tutkimuslaitos VTT | Akateeminen Kirjakauppa

SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

A simplified key-curve approach for J-R-curve testing of CT-specimens

40,50 €

Valtion teknillinen tutkimuslaitos VTT
Sivumäärä: 22 sivua
Julkaisuvuosi: 1987 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

Loppuunmyyty

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

A simplified key-curve approach for J-R-curve testing of CT-specimens

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9789513826451

Aihealue:

Suomalaiset kirjat

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste

Tietosuojaseloste