Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265, Thompson, C. V.; Lloyd, J. R., Materials Research Society

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Materials Reliability in Microelectronics II: Volume 265

36,20 €

Materials Research Society
Sivumäärä: 346 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1992, 30.09.1992 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

The MRS Symposium Proceeding series is an internationally recognised reference suitable for researchers and practitioners.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781558991606

Aihealue:

Sisäänkirjautuminen

Oma tili

Lisätietoja