The Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Scale for Measuring Intelligence, Terman, Lewis M.; Lyman, Grace; Ordahl, George, KESSINGER PUB CO

KIRJAUDU

ostoskori

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

The Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Scale for Measuring Intelligence

Lewis M. Terman, Grace Lyman, George Ordahl

76,80 €

KESSINGER PUB CO
Sivumäärä: 186 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2010, 01.09.2010 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

The Stanford Revision and Extension of the Binet-Simon Scale for Measuring Intelligence

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781163678527

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Literary Collections » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste