SULJE VALIKKO

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronics
130,50 €
Cambridge University Press
Sivumäärä: 328 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2017, 14.09.2017 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Tuotesarja: The Cambridge RF and Microwave Engineering Series
Connect basic theory with real-world applications with this practical, cross-disciplinary guide to radio frequency measurement of nanoscale devices and materials. • Learn the techniques needed for characterizing the performance of devices and their constituent building blocks, including semiconducting nanowires, graphene, and other two dimensional materials such as transition metal dichalcogenides • Gain practical insights into instrumentation, including on-wafer measurement platforms and scanning microwave microscopy • Discover how measurement techniques can be applied to solve real-world problems, in areas such as passive and active nanoelectronic devices, semiconductor dopant profiling, subsurface nanoscale tomography, nanoscale magnetic device engineering, and broadband, spatially localized measurements of biological materials Featuring numerous practical examples, and written in a concise yet rigorous style, this is the ideal resource for researchers, practicing engineers, and graduate students new to the field of radio frequency nanoelectronics.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Measurement Techniques for Radio Frequency Nanoelectronicszoom
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781107120686
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste