SULJE VALIKKO

avaa valikko

Microelectronics Failure Analysis Desk Reference
334,80 €
ASM International
Sivumäärä: 800 sivua
Asu: Moniviestin
Painos: Sixth Edition
Julkaisuvuosi: 2011, 01.12.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This updated reference book, prepared by experts in their fields, contains dozens of articles covering a wide range of topics involving the failure analysis of microelectronics. It places the most important and up-to-date information on this subject at your fingertips.

Topic coverage includes:
* Failure Analysis Process Flow
* Failure Verification
* Failure Modes and Failure Classification
* Special Devices (MEMS, Optoelectronics, Passives)
* Fault Localisation Techniques: Package Level (NDT)
* Die Level (Depackaging, Photon Emission, Microthermography, Laser-Based Methods, Particle Beam Methods)
* Deprocessing & Imaging Techniques: Deprocessing
* General Imaging Techniques
* Local Deprocessing & Imaging
* Circuit Edit and Design Modification
* Material Analysis Techniques
* Reference Information: Important Topics for Semiconductor Devices
* Failure Analysis Techniques Roadmap
* Failure Analysis Operations and Management
* Appendices: Failure Analysis Terms, Definitions, and Acronyms
* Industry Standards

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Microelectronics Failure Analysis Desk Reference
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781615037254
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste