CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies, Pavlov, Andrei; Sachdev, Manoj, SPRINGER VERLAG GMBH

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

CMOS Sram Circuit Design and Parametric Test in Nano-Scaled Technologies

Andrei Pavlov, Manoj Sachdev

64,70 €

SPRINGER VERLAG GMBH
Sivumäärä: 212 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2008, 01.07.2008 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

This book covers a broad range of topics related to SRAM design and testing. It includes everything from SRAM operation basics through cell electrical and physical design to process-aware and economical approach to SRAM testing.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus