SULJE VALIKKO

avaa valikko

Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
125,90 €
IntechOpen
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2022, 07.01.2022 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
This book contains chapters that describe advanced atomic force microscopy (AFM) modes and Raman spectroscopy. It also provides an in-depth understanding of advanced AFM modes and Raman spectroscopy for characterizing various materials. This volume is a useful resource for a wide range of readers, including scientists, engineers, graduate students, postdoctoral fellows, and scientific professionals working in specialized fields such as AFM, photovoltaics, 2D materials, carbon nanotubes, nanomaterials, and Raman spectroscopy.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tuote on tilapäisesti loppunut ja sen saatavuus on epävarma. Seuraa saatavuutta.
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Recent Developments in Atomic Force Microscopy and Raman Spectroscopy for Materials Characterization
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781839682292
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste