Structural Characterization of Hard Materials by Transmission Electron Microscopy (Tem): Diamond-Silicon Carbide Composites and , Park, Joon Seok, Proquest, Umi Dissertation Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Structural Characterization of Hard Materials by Transmission Electron Microscopy (Tem): Diamond-Silicon Carbide Composites and

Joon Seok Park

122,50 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 394 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Structural Characterization of Hard Materials by Transmission Electron Microscopy (Tem): Diamond-Silicon Carbide Composites and

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781243555779

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste