Machine Vision Systems for Inspection and Metrology: No. 7, Miller, John W.; Solomon, Susan S., SPIE Press

KIRJAUDU

ostoskori

avaa valikko

Machine Vision Systems for Inspection and Metrology: No. 7

John W. Miller, Susan S. Solomon

188,70 €

SPIE Press
Sivumäärä: 398 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 1999, 31.05.1999 (lisätietoa)

A collection of 43 papers on machine vision systems for inspection and metrology. Topics covered include the systems themselves, components within the systems and applications for them.

Volume editor: Bruce G. Batchelor, etc.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus