Analysis and Modeling of Total Dose Effects in Advanced Bulk CMOS Technologies., McLain, Michael Lee, Proquest, Umi Dissertation Publishing

KIRJAUDU

ostoskori

Englanninkielisten kirjojen poikkeusaikata... LUE LISÄÄ

avaa valikko

Analysis and Modeling of Total Dose Effects in Advanced Bulk CMOS Technologies.

Michael Lee McLain

127,20 €

Proquest, Umi Dissertation Publishing
Sivumäärä: 166 sivua
Asu: Pehmeäkantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2011, 01.09.2011 (lisätietoa)
Kieli: Englanti

Tuotteella ei tuotekuvausta.

LISÄÄ OSTOSKORIIN

Tuotteella on huono saatavuus ja tuote toimitetaan hankintapalvelumme kautta. Tilaamalla tämän tuotteen hyväksyt palvelun aloittamisen. Seuraa saatavuutta.

Myymäläsaatavuus

Helsinki

Tapiola

Turku

Tampere

Analysis and Modeling of Total Dose Effects in Advanced Bulk CMOS Technologies.

Näytä kaikki tuotetiedot

ISBN:

9781244103269

Aihealue:

Ulkomaiset kirjat » Technology » General

Sisäänkirjautuminen

Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen

Oma tili

Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut

Lisätietoja

Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste