SULJE VALIKKO

avaa valikko

Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108
113,00 €
Materials Research Society
Sivumäärä: 259 sivua
Asu: Kovakantinen kirja
Julkaisuvuosi: 2009, 08.04.2009 (lisätietoa)
Kieli: Englanti
Despite the rapid development in semiconductor-based devices, there exist fundamental materials and physics issues that limit the reliability and performance of optoelectronic and electronic devices. This book examines the latest technical advancements and emerging trends in semiconductor materials and devices. The Gallium Nitride Electronic Devices chapter offers an overview of the state-of-the-art in high electron mobility transistor (HEMT) devices with interesting work on circumventing the current performance limiters in this device structure. Nano-Engineered Devices provides a snapshot of the current understanding in modifying the nanoscale specific properties of quantum dot and quantum well devices. The Performance of Semiconductor Devices chapter surveys advancements in several fields including terahertz ellipsometry, high-power multi-emitter laser bars, and thin-film transistors. Advanced Materials and Devices, highlights designs in ultrathin high- gate dielectrics for CMOS and related devices and also reports on the implementation of III-V materials as a replacement for the silicon channel in future CMOS technology.

Tuotetta lisätty
ostoskoriin kpl
Siirry koriin
LISÄÄ OSTOSKORIIN
Tilaustuote | Arvioimme, että tuote lähetetään meiltä noin 2-3 viikossa | Tilaa jouluksi viimeistään 27.11.2024
Myymäläsaatavuus
Helsinki
Tapiola
Turku
Tampere
Performance and Reliability of Semiconductor Devices: Volume 1108
Näytä kaikki tuotetiedot
ISBN:
9781605110806
Sisäänkirjautuminen
Kirjaudu sisään
Rekisteröityminen
Oma tili
Omat tiedot
Omat tilaukset
Omat laskut
Lisätietoja
Asiakaspalvelu
Tietoa verkkokaupasta
Toimitusehdot
Tietosuojaseloste